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    林璇英, 黄创君, 林揆训, 余运鹏, 余楚迎, 黄 锐

    Raman analysis of microstructure of polycrystalline silicon films deposited at low-temperatures from SiCl4-H2

    Lin Xuan-Ying, Huang Chuang-Jun, Lin Kui-Xun, Yu Yun-Peng, Yu Chu-Ying, Huang Rui
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    • 刊出日期:2005-04-29

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